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膜厚仪和涂层膜厚仪一样吗?
- 2019-09-29-

一般来说,膜厚仪和涂层膜厚仪都是一种产品。
膜厚仪一般用于测量氧化膜厚度,常用铝基、铜基氧化。在测量时,N(非磁性)探头是由膜厚仪选择的,所以测量铝基等氧化层也称膜厚仪。
膜厚仪又称X射线测厚仪。其原理是物质在受到x射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变得不稳定。为了从不稳定状态恢复到稳定状态,物质必须以荧光或光的形式释放多余的能量。荧光x射线涂层测厚仪或成分分析仪的原理是测量释放的荧光能量和强度,进行定性和定量分析。
对于如何选择膜厚仪,首先要看企业自身的能力和业务要求。本产品为德国洪德X射线荧光镀金测厚仪,专为五金电镀行业设计。价格很优惠。不需要标准的胶片归档校正。许多类似的机器没有这个功能。由于其独特的软件功能,该仪器可以利用采集的纯元素建立测量程序,也可以不用标准片进行测量,测量表面涂层的精度为正负5%。维修成本低,因为电子元件被完全细分,每个电子元件的成本降低到低水平。

膜厚仪通常有两种测量原理,f-n探头或fn集成探头。氧层厚度一般在几微米到十几微米之间,但常用的膜厚仪测量误差较大。需要用高精度的膜厚仪测量氧化层,。

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