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膜厚仪的测量系统
- 2019-09-19-

nix 4500膜厚仪

成熟的测量系统,可互换的选配探头具有灵活性。

通过与工艺、工业和服务行业,一种模块化的膜厚仪,它将各种

经验证的qnix膜厚仪的许多特性结合在一个设备中。

模块化测量系统
qnix4500是一种非常紧凑和方便的膜厚仪,可以直接插入微型探头。

为了灵活使用,微探针也可以连接到延长电缆上。

qnix4500模块化测量系统提供高达5000um的移动性,高测量精度,

易于处理和不寻常的应用。它是一种特别紧凑和方便的非破坏性测量

所有铁基和NFE基涂层厚度的仪器。可直接插入微型探头或将探头连接至插入的延长电缆。

 

NIX 4500膜厚仪:

可测量磁性基体(FE模式);非磁性基体(NFE模式);

测量范围:Fe:0-3000um;NFE:0-3000um;

显示精度:0.1um;

精度:0-50um:<1um 50-1000um:<1.5%读数1000-3000um<3%读数;

ZUI小接触面:10*10mm/QNIX4500;ZUI小曲率半径:凸面3mm;凹面25mm;

ZUI小矩阵厚度:Fe:0.2 mm/NFE:0.05 mm;温度补偿范围:0-60 C;

显示器:LCD液晶(带背光);

探头:红宝石固定式;

电源:2×1.5V干电池;

尺寸:100×60×27mm;

重量:110克

TEL:13151195978    FAX:13151195978   EMAIL:

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