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表面粗糙度仪 Leeb451

表面粗糙度仪 Leeb451

产品详情

【技术参数

项目名称

Leeb451

测量参数

Ra,Rz,Rq,Rt

测量范围

Ra:0.05~10um;Rz:0.1~50um

显示分辨率

0.01um

传感器类型

压电晶体

滤波方式

/

示值误差

±15%

示值变动性

±12%

取样长度

0.25mm、0.8mm、2.5mm

评定长度

5L

量程范围

±20um、±40um、±80um

针尖角度

90°

显示方式

点阵液晶

数据存储

/

工作环境

-10℃ 40℃(温度),< 90%(湿度)

电源

DC 5V,500mAh

工作时间

20小时

外形尺寸

105×70×24mm

重量

200g

标准配置

主机、多刻线样板、充电器

可选配件

/

 

询盘

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