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涂层测厚仪Leeb230

涂层测厚仪Leeb230

产品详情


【技术参数

项目名称

Leeb230

测头类型

F1

测量原理

磁感应

测量范围

1250um

分辨率

0.1um

示值误差

一点校准

±(3%H+1)um

二点校准

±[(1~3)%H+1]um

测试条件

最小曲率半径

凸1.5mm  凹9mm

最小面积直径

φ7mm

基本临界厚度

0.5mm

工作环境

温度

40

湿度

20% 90%

电源

AAA碱性电池2节

电压

3V

工作时间

100小时

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

350g

外壳材质

金属外壳

标准配置

主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池

可选配件

标准试片、探头

PC通讯


 

仪器选用探头的技术数据

探头

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

测量原理

磁性

涡流

测量范围(μm)

0~400

0~1250

0~10mm

0~400

0~12500

10~200

测量精度μm

一点校准

±[(1~3)%H+0.7]

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+1)

±(3%H+1.5)

H+1)

二点校准

±(1~3%H+0.7)

H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

最小曲率半径(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

仅为平面

最小面积直径(mm)

¢3

¢7

¢40

¢4

¢5

¢7

基本临界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

无限制

 

测头选用参考表

覆盖层基体

有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)

非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)

覆盖层厚度不超过100μm

覆盖层厚度超过100μm

覆盖层厚度不超过100μm

覆盖层厚度超过100μm

如铁、钢等磁性金属

被测面积直径大于30mm

F400型测头0~400μm 
F1型测头

0~1250μm

F1型测头
0~1250μm 
F10型测头

0~10μm

F400型测头0~400μm 
F1型测头

0~1250μm

F1型测头
0~1250μm 
F10型测头

0~10μm

被测面积直径小于30mm

F400型测头0~400μm

F400型测头0~400μm 
F1型测头

0~1250μm

F400型测头0~400μm

F400型测头0~400μm 
F1型测头

0~1250μm

如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属

被测面积直径大于10mm

N1型测头0~1250μm
N400测头0~400μm

仅用于铜上镀铬N1型测头0~40μm N400测头0~40μm

被测面积直径大于10mm

N400测头0~400μm

N400测头0~40μm

塑料、印刷线路非金属基体

被测面积直径大于7mm

--

--

CN02型测头10~200μm

 

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