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涂层测厚仪Leeb222

涂层测厚仪Leeb222

产品详情

【技术参数】

 

项目名称

Leeb222

测头类型

F1和N1

测量原理

磁感应和电涡流

测量范围

1250um

分辨率

0.1um

示值误差

一点校准

±(3%H+1)um

二点校准

±[(1~3)%H+1]um

测试条件

最小曲率半径

凸1.5mm  凹9mm

最小面积直径

φ7mm

基本临界厚度

0.5mm

工作环境

温度

40

湿度

20% 90%

电源

AAA碱性电池2节

电压

3V

工作时间

100小时

外形尺寸

115*68*25 mm

重量

200g

外壳材质

塑料外壳

标准配置

主机、标准试片、基体、F1和N1探头、碱性电池

可选配件

标准试片、探头

PC通讯

 

询盘

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