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超声波测厚仪 Leeb332

超声波测厚仪 Leeb332

产品详情

工作原理

超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。


技术参数

项目名称

Leeb332

示值误差

±(1%H+0.1)mm H为被测物体实际厚度

测量范围

0.75~350mm(钢,由探头决定,标配探头范围1~250mm

显示分辨率

0.01mm

声速范围

1000~9999m/s

存储

2000

使用环境

-10~60℃(非高温探头)  -10~300℃(高温探头)

PC通讯

电源

AA型碱性电池2节

工作时间

100小时

壳体材料

金属外壳

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

450g

标准配置

主机、L51探头、碱性电池2节、耦合剂

可选配件

各类探头、耦合剂、打印纸


 

探头参数

类型型号名称频率(MHz)探头直径测量范围最小管径特性描述
标准探头L585P10/90510mm0.8~200 mm(钢)Φ20mm×3.0mm常温使用(<60℃)
标准探头L515P10510mm1.0~250 mm(钢)Φ20mm×3.0mm常温使用(<60℃)
微径探头L777P676mm0.7~50 mm(钢)Φ15mm×2.0mm薄壁及小弧面测量,
常温使用(<60℃)
粗晶探头LZ2SZ2.5P222mm2.5~350 mm(钢)Φ20mm铸铁等粗晶材质测量,
常温使用(<60℃)
高温探头LG5514mm2~100 mm(钢)Φ30mm可用于高温度材料的测量
(<300℃)

 

询盘

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